Mjerač napona staklene površine serije JF-4
Široko se koristi u kontroli kvaliteta za staklene ploče telefona, LCD panele i druge hemijski kaljene staklene ploče. Međutim, mjerač se ne može primijeniti na kemijski kaljeno staklo proizvedeno (Li+ u staklu) i (Na+ u slanoj kupki) ionskom izmjenom i kemijski kaljenim fotohromskim staklom.
Može se prilagoditi prema zahtjevima. Novo izdani softver sa karakteristikama pogodnim za staklo sa dvostrukom ionskom izmjenom, koji prikazuje distribuciju naprezanja, automatski nastavlja mjerenje, automatski nastavlja snimanje u CSV datoteku, i izvještava o izvozu.
Softver treba da sarađuje sa meračem napona staklene površine za korišćenje na računaru. Koristeći ovaj softver, pojedinačno mjerenje i kontinuirano mjerenje naprezanja staklene površine, inspekcija distribucije naprezanja (samo hemijski kaljeno staklo), snimanje, štampanje izvještaja može se završiti na računaru.
Parametri i druge funkcije mogu se podesiti u isto vrijeme. Rezolucija kompjuterskih monitora mora biti 1280*1024 piksela ili više.
Preciznost: 20Mpa
Raspon: 1000MPa/1500MPa
Dubina: 5~50um/10~100um/10~200um
Operativni sistem: Windows 7 32 bit / Windows 64 bit
Dužina talasa izvora svetlosti: 355nm/595nm/790nm±10nm
